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2008-07-23 | THDD使用说明及坏道修复方法

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THDD使用说明及坏道修复方法(图文)
2007年12月21日 星期五 09:50

操作步骤:(本文

一:将需要检测/修复的硬盘接到计算机IDE2口,运行THDD程序;

图一界面说明,此界面中显示了IDE接口,端口显示将按照硬盘系列顺序一一列出,选择需要检测硬盘端口使用 上 下 方向键来完成选择;选择后回车将进入下一步;(图一未显示)
图一:进入程序,选择需要检测修复的硬盘(本文

图二:选择执行的功能(主菜单

二:选择硬盘后,状态栏显示了硬盘的型号/版本/SN/SMART状态等等信息;如下图;

图三:状态栏信息

MODEL:硬盘型号显示

FIRMWARE:固件版本号显示

SERIAL N:硬盘SN的显示
SMART 5:SMART当前状态显示
SIZE(MBytes):硬盘容量大小大小(MB)状态显示
ROTATION SPEED:硬盘转速显示
CYLINDER:柱面数显示
HEAD:磁头数显示
SECTOR:扇区数显示

图四:程序的主菜单
CLEAR FAT 清除FAT表
CLEAR MBR清除MBR

SURFACE TEST 磁盘表面检测 4
VIEW DEFECT LIST 查看缺陷列表( +
注意:选项菜单中并不能察看硬盘上的缺陷表,只能够显示在磁盘表面检测中发现的缺陷数列表,如果没有经过检测,列表中将没有显示;]
CHOICE DRIVE选择操作驱动器;
EXIT 退出
三:硬盘表面的检测;
1:执行SURFACE TEST选项菜单后,出现图五中显示,CHS模式只能检测8GB以下硬盘,LBA模式可以支持超过8G以上硬盘的检测,此功能选项根据测试硬盘而定;在检测运行方式上,两种具备相同的功效;
(本文转载自中国硬盘基地www.intohard.com) /A OGn? Z3
图五:选择工作模式

2:选择工作模式进入,出现图六显示;这里选择从开始数值,回车(确定)后,开始执行硬盘表面的扫描;

(本文转载自中国硬盘基地www.intohard.com) \h s7>5O^K
图六:选择硬盘开始检测的位置中国硬盘基地网 intohard.com(本文转载自中国硬盘基地www.intohard.com) vRW; {,d
3:检测完毕后,我们可以使用VIEW DEFECT LIST(查看缺陷列表) 功能来查看检测结果;

图七:察看硬盘坏道扫描结果列表结果
这个时候可以按键盘“R”键,开始执行修复,THDD会自动把这些缺陷添加到硬盘的G-LIST表中
4:退出THDD,关闭计算机(硬盘的复位工作);(本

注意:当硬盘断电重新启动;才可以准确地检测出我们之前的操作是否能够达到修复目的;(c
5:重新启动THDD进行检测,察看是否修复;

找着可真费劲啊

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